Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Çiçek, Osman" seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • Yükleniyor...
    Küçük Resim
    Öğe
    A Review: Breakdown Voltage Enhancement of GaN Semiconductors Based High Electron Mobility Transistors
    (Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2024) Çiçek, Osman; Badali, Yosef
    Gallium Nitride (GaN) based High Electron Mobility Transistors (HEMTs) are regarded as fundamental semiconductor devices for future power electronic applications. Consequently, researchers have directed their efforts toward enhancing critical parameters such as the breakdown voltage (Vbr), cut-off frequency, and operating temperature. Therefore, this review article explores research endeavors concerning the enhancement of Vbr in GaN-based HEMTs. The objective is to gain insights into the key factors influencing Vbr values and to identify the constraints that govern the optimal performance of HEMTs in power devices. Additionally, this review provides an in-depth examination of select studies that introduce novel techniques for improving Vbr values.

| İstanbul Ticaret Üniversitesi | Kütüphane | Açık Erişim Politikası | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Örnektepe Mah. İmrahor Cad. No: 88/2 Z-42 Beyoğlu, İstanbul, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

DSpace 7.6.1, Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim